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參數(shù)資料
| 型號： | DS3141+ |
| 廠商： | Maxim Integrated Products |
| 文件頁數(shù)： | 66/88頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FRAMER DS3/E3 SNGL 144CSBGA |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 160 |
| 控制器類型： | DS3/E3 調(diào)幀器 |
| 接口： | LIU |
| 電源電壓： | 3.135 V ~ 3.465 V |
| 電流 - 電源： | 80mA |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 144-BGA，CSPBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 144-TECSBGA（13x13） |
| 包裝： | 托盤 |
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DS3141/DS3142/DS3143/DS3144 Single/Dual/Triple/Quad DS3/E3 Framers
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9. JTAG INFORMATION
The DS3141, DS3142, and DS3143, and DS3144 support the standard instruction codes SAMPLE/PRELOAD,
BYPASS, and EXTEST. Optional public instructions included are HIGHZ, CLAMP, and IDCODE. See the JTAG
block diagram in Figure 9-1. The device contains the following items, which meet the requirements set by the IEEE
1149.1 Standard Test Access Port (TAP) and Boundary Scan Architecture:
Test Access Port (TAP)
TAP Controller
Instruction Register
Bypass Register
Boundary Scan Register
Device Identification Register
The Test Access Port has the necessary interface pins, namely JTCLK, JTDI, JTDO, and JTMS, and the optional
JTRST input. Details on these pins can be found in Section 5.6. Refer to IEEE 1149.1-1990, IEEE 1149.1a-1993,
and IEEE 1149.1b-1994 for details about the Boundary Scan Architecture and the Test Access Port.
Figure 9-1. JTAG Block Diagram
9.1 JTAG TAP Controller State Machine
This section covers the operation of the TAP controller state machine. See Figure 9-2 for details on each of the
states described below. The TAP controller is a finite state machine that responds to the logic level at JTMS on the
rising edge of JTCLK.
Test-Logic-Reset. When
JTRST is changed from low to high, the TAP controller starts in the Test-Logic-Reset
state, and the instruction register is loaded with the IDCODE instruction. All system logic and I/O pads on the
device operate normally.
Run-Test-Idle. Run-Test-Idle is used between scan operations or during specific tests. The instruction register and
test register remain idle.
BOUNDARY
SCAN
REGISTER
IDENTIFICATION
REGISTER
BYPASS
REGISTER
INSTRUCTION
REGISTER
TEST ACCESS PORT
CONTROLLER
MU
X
SELECT
TRI-STATE
JTDI
10k
W
JTMS
10k
W
JTCLK
JTRST
10k
W
JTDO
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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