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參數(shù)資料
| 型號： | GMS30C7201 |
| 英文描述： | 32-Bit RISC Microprocessor(32位 RISC 微處理器) |
| 中文描述： | 32位RISC微處理器（32位的RISC微處理器） |
| 文件頁數(shù)： | 309/354頁 |
| 文件大?。?/td> | 1639K |
| 代理商： | GMS30C7201 |
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Slow AMBA Peripherals
13-79
GMS30C7201 Data Sheet
Test mode control registers (AICTSTCR)
This 8-bit register controls the AIC unit test mode.
Test registers (AICTSTR0
–
AICTSTR4, ADCTSTR0
–
ADCTSTR4)
Ten 8-bit registers are used to save data for the AIC unit test and ADC unit test. The
functions of each of the registers are described below. The AICTSTR0, AICTSTR1,
ADCTSTR0 and ADCTSTR1 registers can be read and written, but the others are read-
only registers.
Bit
Initial
Name
Function
7
0
TSTCR7
Test enable
0 - normal mode
1 - test mode
6
0
TSTCR6
Test mode bit
0 - AIC test mode
1 - ADC test mode
5
0
TSTCR5
TicClkEn
0 - AIC input clk - PCLK
1 - AIC input clk - TCLK
4
0
TSTCR4
OclkSelect.
This bit is used only to test the AIC block:
0 - The clock (OCLK) generated inside AIC
is used. OCLK is slow.
1 - PCLK is used instead of OCLK to
increase the speed in test mode.
3
0
TSTCR3
TcountMode
This bit is used to reduce the touch panel
interrupt interval, and is used only in test
mode.
0 - normal interrupt interval
1 - fixed interrupt interval, regardless of
sampling rate
2
0
TSTCR2
Test bit
0 - normal output to ADC
1 - test output to ADC
1
–
0
-
-
Reserved
Table 13-69: AICTSTCR bit functions
Bit
Initial
Name
Function
7
X
Clock
Bit is to read outgoing ACLK signals to ADC. In
normal mode, PCLK is bypassed to ACLK, but
in test mode ACLK has the value of TCLK.
This register is readable in both normal mode
and test mode.
6
–
0
-
-
Reserved
Table 13-70: AICTSTR0 bit functions
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