參數(shù)資料
型號: IDT7034L20PF8
廠商: INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY INC
元件分類: SRAM
英文描述: 4K X 18 DUAL-PORT SRAM, 20 ns, PQFP100
封裝: 14 X 14 MM, 1.40 MM HEIGHT, TQFP-100
文件頁數(shù): 16/19頁
文件大?。?/td> 167K
代理商: IDT7034L20PF8
IDT7034S/L
High-Speed 4K x 18 Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
6
AC Test Conditions
Figure 2. Output Test Load
(for tLZ, tHZ, tWZ, tOW)
*including scope and jig.
Data Retention Waveform
Data Retention Characteristics Over All Temperature Ranges
(L Version Only) (VCC = 0.2V, VHC = VCC - 0.2V)(4)
NOTES:
1.
TA = +25°C, VCC = 2V, not production tested.
2.
tRC = Read Cycle Time
3.
This parameter is guaranteed by characterization, but is not production tested.
4.
At Vcc < 2.0V input leakages are undefined.
Figure 1. AC Output Test Load
Symbol
Parameter
Test Condition
Min.
Typ.(1)
Max.
Unit
VDR
VCC for Data Retention
VCC = 2V
2.0
___
V
ICCDR
Data Retention Current
CE > VHC
VIN > VHC or < VLC
IND.
___
100
4000
A
COM'L.
___
100
1500
tCDR(3)
Chip Deselect to Data Retention Time
SEM > VHC
0
___
ns
tR(3)
Operation Recovery Time
tRC(2)
___
ns
4089 tbl 10
DATA RETENTION MODE
VCC
CE
4089 drw 03
4.5V
tCDR
tR
VIH
VDR
VIH
4.5V
VDR
2V
>
4089 drw 04
893
30pF
347
5V
DATAOUT
BUSY
INT
893
5pF*
347
5V
DATAOUT
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
5ns Max.
1.5V
Figures 1 and 2
4089 tbl 11
相關PDF資料
PDF描述
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參數(shù)描述
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