- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄372163 > SN54LVTH182502A (Texas Instruments, Inc.) 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT掃描測試裝置(18位通用總線收發(fā)器)) PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號： | SN54LVTH182502A |
| 廠商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | 3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT掃描測試裝置(18位通用總線收發(fā)器)) |
| 中文描述： | 的3.3V ABT生根粉掃描測試設(shè)備與18位通用總線收發(fā)器（3.3VABT掃描測試裝置（18位通用總線收發(fā)器）） |
| 文件頁數(shù)： | 3/35頁 |
| 文件大?。?/td> | 806K |
| 代理商： | SN54LVTH182502A |
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SN54LVTH18502A, SN54LVTH182502A, SN74LVTH18502A, SN74LVTH182502A
3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES
WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
SCBS668A – JULY 1996 – REVISED DECEMBER 1996
3
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
18 19
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
20
1
2
3
4
5
6
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63 62 61 60 59
64
58
56 55 54
57
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53 52
17
51 50 49
30 31 32
1
G
1
T
1
1
1
V
1
1
1
1
T
1
G
1
2
G
2
2
2
2
2
T
2
2
2
2
V
T
G
2
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
C
SN74LVTH18502A, SN74LVTH182502A . . . PM PACKAGE
(TOP VIEW)
FUNCTION TABLE
(normal mode, each register)
INPUTS
OUTPUT
B
B0
L
OEAB
L
LEAB
L
CLKAB
L
↑
↑
X
A
X
L
L
L
L
L
H
H
L
H
L
L
L
H
X
H
H
H
X
X
X
Z
A-to-B data flow is shown. B-to-A data flow is similar
but uses OEBA, LEBA, and CLKBA.
Output level before the indicated steady-state input
conditions are established
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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