參數(shù)資料
型號: IDT71028S20YG8
廠商: INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY INC
元件分類: SRAM
英文描述: 256K X 4 STANDARD SRAM, 20 ns, PDSO28
封裝: 0.400 INCH, ROHS COMPLIANT, PLASTIC, SOJ-28
文件頁數(shù): 3/8頁
文件大小: 457K
代理商: IDT71028S20YG8
6.42
IDT71028 CMOS Static RAM
1 Meg (256K x 4-Bit) Commercial and Industrial Temperature Ranges
DC Electrical Characteristics
(V
CC
= 5.0V ± 10%, Commercial and Industrial Temperature Ranges)
71028S12
71028S15
71028S20
Symbol
Parameters
Com'l.
Ind.
Com'l.
Ind.
Com'l.
Ind.
Unit
I
CC
Dynamc Operating Current,
CS
V
IL
, Outputs Open,
V
CC
= Max., f = f
MAX
(2)
155
170
150
165
145
160
mA
I
SB
Standby Power Supply Current (TTL Level)
CS
V
IH
, Outputs Open,
V
CC
= Max., f=f
MAX
(2)
40
40
40
40
40
40
mA
I
SB1
Full Standby Power Supply Current
(CMOS Level),
CS
V
HC
, Outputs Open,
V
CC
= Max., f = 0
(2)
, V
IN
V
LC
or V
IN
V
HC
10
10
10
10
10
10
mA
2966 tbl 07
Symbol
Parameter
Test Condition
IDT71028
Unit
Min.
Max.
|
LI
|
Input Leakage Current
V
CC
= Max., V
IN
= GND to V
CC
___
5
μA
|
LO
|
Output Leakage Current
V
CC
= Max.,
CS
= V
IH
, V
OUT
= GND to V
CC
___
5
μA
V
OL
Output Low Voltage
I
OL
= 8mA, V
CC
= Min.
___
0.4
V
V
OH
Output High Voltage
I
OH
= –4mA, V
CC
= Min.
2.4
___
V
2966 tbl 06
DC Electrical Characteristics
(1)
(V
CC
= 5.0V ± 10%, V
LC
= 0.2V, V
HC
= V
CC
– 0.2V)
*Including jig and scope capacitance.
AC Test Conditions
Figure 1. AC Test Load
Figure 2. AC Test Load
(for t
CLZ
, t
OLZ
, t
CHZ
, t
OHZ
, t
OW,
and t
WHZ
)
2966 drw 03
480
255
30pF
DATA
OUT
5V
2966 drw 04
480
255
5pF*
DATA
OUT
5V
AC Test Loads
NOTES:
1. All values are maximumguaranteed values.
2. f
MAX
= 1/t
RC
(all address inputs are cycling at f
MAX
)
;
f = 0 means no address input lines are changing.
Input Pulse Levels
GND to 3.0V
Input Rise/Fall Times
3ns
Input Timing Reference Levels
1.5V
Output Reference Levels
1.5V
AC Test Load
See Figures 1 and 2
2966 tbl 08
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