參數(shù)資料
型號(hào)： 9E4101YFILFT
廠商： INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY INC
元件分類(lèi)： 微控制器/微處理器
英文描述： MICROCONTROLLER, PDSO56
封裝： 0.300 INCH, 0.250 INCH PITCH, ROHS COMPLIANT, MO-118, SSOP-56
文件頁(yè)數(shù)： 9/19頁(yè)
文件大?。?/td> 188K
代理商： 9E4101YFILFT
IDTTM
Programmable Timing Control HubTM for Intel Systems
1408A—01/25/10
ICS9E4101
Programmable Timing Control HubTM for Intel Systems
17
Test Clarification Table
Comments
FS_C/TEST
_SEL
HW PIN
FS_B/TEST
_MODE
HW PIN
TEST
ENTRY
BIT
B6b6
REF/N or
HI-Z
B6b7
OUTPUT
0X
0
X
NORMAL
10
X
0
HI-Z
10
X
1
REF/N
11
X
0
REF/N
11
X
1
REF/N
0X
1
0
HI-Z
0X
1
REF/N
B6b6: 1= ENTER TEST MODE, Default = 0 (NORMAL OPERATION)
B6b7: 1= REF/N, Default = 0 (HI-Z)
HW
SW
FS_C/TEST_SEL is a 3-level latched input.
o Power-up w/ V >= 2.0V to select TEST
o Power-up w/ V < 2.0V to have pin function as
FS_C.
When pin is FS_C, VIH_FS and VIL_FS levels
apply.
FS_B/TEST_MODE is a low-threshold input
o VIH_FS and VIL_FS levels apply.
o TEST_MODE is a real time input
TEST_SEL can be invoked after power up through
SMBus B6b6.
o If TEST is selected by B6b6, only B6b7 controls
TEST_MODE. The FS_B/TEST_Mode pin is not
used.
Power must be cycled to exit TEST.
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PDF描述
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