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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | UPD44324092F5-E37-EQ2 |
| 廠商： | NEC Corp. |
| 元件分類： | DRAM |
| 英文描述： | 36M-BIT DDRII SRAM 2-WORD BURST OPERATION |
| 中文描述： | 36M條位SRAM的2條DDRII字爆發(fā)運(yùn)作 |
| 文件頁數(shù)： | 30/40頁 |
| 文件大?。?/td> | 361K |
| 代理商： | UPD44324092F5-E37-EQ2 |
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30
Data Sheet M16780EJ3V0DS
μ
PD44324082, 44324092, 44324182, 44324362
TAP Controller State Diagram
Test-Logic-Reset
Run-Test / Idle
Select-DR-Scan
Capture-DR
Capture-IR
Shift-DR
Exit1-DR
Pause-DR
Exit2-DR
Update-DR
Update-IR
Exit2-IR
Pause-IR
Exit1-IR
Shift-IR
Select-IR-Scan
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1
Disabling the Test Access Port
It is possible to use this device without utilizing the TAP. To disable the TAP Controller without interfering with normal
operation of the device, TCK must be tied to V
SS
to preclude mid level inputs.
TDI and TMS may be left open but fix them to V
DD
via a resistor of about 1 k
when the TAP controller is not used.
TDO should be left unconnected also when the TAP controller is not used.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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| UPD44324092F5-E37-EQ2-A | 36M-BIT DDRII SRAM 2-WORD BURST OPERATION |
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