參數(shù)資料
型號： MCHC812A4PV5
廠商： 飛思卡爾半導體(中國)有限公司
英文描述： Microcontrollers
中文描述： 微控制器
文件頁數(shù)： 225/242頁
文件大小： 1285K
代理商： MCHC812A4PV5
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ATD DC Electrical Characteristcs
MC68HC812A4 Data Sheet, Rev. 7
Freescale Semiconductor
225
18.7 ATD DC Electrical Characteristcs
18.8 Analog Converter Operating Characteristics
Characteristic
(1)
1. V
DD
= 5.0 Vdc
±
10%, V
SS
= 0 Vdc, T
A
= T
to T
H
, ATD clock = 2 MHz, unless otherwise noted
2. Accuracy is guaranteed at V
RH
V
RL
=
5.0 Vdc
±
10%
.
3. To obtain full-scale, full-range results, V
SSA
≤
V
RL
≤
V
INDC
≤
V
RH
≤
V
DDA
.
4. Maximum leakage occurs at maximum operating temperature. Current decreases by approximately one-half for each
10
°
C decrease from maximum temperature.
Symbol
Min
Max
Unit
Analog supply voltage
V
DDA
4.5
5.5
V
Analog supply current, normal operation
I
DDA
—
1.0
mA
Reference voltage, low
V
RL
V
SSA
V
DDA
/
2
V
Reference voltage, high
V
RH
V
DDA
/
2
V
DDA
V
V
REF
differential reference voltage
(2)
V
RH
V
RL
4.5
5.5
V
Input voltage
(3)
V
INDC
V
SSA
V
DDA
V
Input current, off channel
(4)
I
OFF
—
100
nA
Reference supply current
I
REF
—
250
μ
A
Input capacitance
Not sampling
Sampling
C
INN
C
INS
—
—
10
15
pF
Characteristic
(1)
1. V
DD
= 5.0 Vdc
±
10%, V
SS
= 0 Vdc, T
= T
L
to T
H
, ATD clock = 2 MHz, unless otherwise noted
2. V
RH
V
RL
≥
5.12 V; V
DDA
—V
SSA
= 5.12 V
3. At V
REF
=
5.12 V, one 8-bit count = 20 mV.
4. 8-bit absolute error of 1 count (20 mV) includes 1/2 count (10 mv) inherent quantization error and 1/2 count (10 mV) circuit
(differential, integral, and offset) error.
5. Maximum source impedance is application-dependent. Error resulting from pin leakage depends on junction leakage into
the pin and on leakage due to charge-sharing with internal capacitance.
Error from junction leakage is a function of external source impedance and input leakage current. Expected error in result
value due to junction leakage is expressed in voltage (V
ERRJ
):
V
ERRJ
=
R
S
×
I
OFF
where I
OFF
is a function of operating temperature. Charge-sharing effects with internal capacitors are a function of ATD
clock speed, the number of channels being scanned, and source impedance. For 8-bit conversions, charge pump leakage
is computed as follows:
V
ERRJ
=
.25 pF
×
V
DDA
×
R
S
×
ATDCLK/(8
×
number of channels)
Symbol
Min
Typical
Max
Unit
8-bit resolution
(2)
2 counts
—
24
—
mV
Differential non-linearity
(3)
DNL
0.5
—
+
0.5
Count
Integral non-linearity
(3)
INL
1
—
+
1
Count
Absolute error
(3),(4)
2, 4, 8, and 16 ATD sample clocks
AE
2
—
+
2
Count
Maximum source impedance
R
S
—
20
See note
(5)
k
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