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參數(shù)資料
| 型號： | APA300-BGG456 |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 90/178頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA PROASIC+ 300K 456-PBGA |
| 標準包裝： | 24 |
| 系列： | ProASICPLUS |
| RAM 位總計： | 73728 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 290 |
| 門數(shù)： | 300000 |
| 電源電壓： | 2.3 V ~ 2.7 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 封裝/外殼： | 456-BBGA |
| 供應商設備封裝： | 456-PBGA（35x35） |
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ProASICPLUS Flash Family FPGAs
v5.9
2-9
The TAP controller receives two control inputs (TMS and
TCK) and generates control and clock signals for the rest
of the test logic architecture. On power-up, the TAP
controller enters the Test-Logic-Reset state. To guarantee
a reset of the controller from any of the possible states,
TMS must remain high for five TCK cycles. The TRST pin
may also be used to asynchronously place the TAP
controller in the Test-Logic-Reset state.
ProASICPLUS devices support three types of test data
registers: bypass, device identification, and boundary
scan. The bypass register is selected when no other
register needs to be accessed in a device. This speeds up
test data transfer to other devices in a test data path.
The 32-bit device identification register is a shift register
with four fields (lowest significant byte (LSB), ID number,
part number and version). The boundary-scan register
observes and controls the state of each I/O pin.
Each I/O cell has three boundary-scan register cells, each
with a serial-in, serial-out, parallel-in, and parallel-out
pin. The serial pins are used to serially connect all the
boundary-scan register cells in a device into a boundary-
scan register chain, which starts at the TDI pin and ends
at the TDO pin. The parallel ports are connected to the
internal core logic tile and the input, output, and control
ports of an I/O buffer to capture and load data into the
register to control or observe the logic state of each I/O.
Figure 2-10 TAP Controller State Diagram
Test-Logic
Reset
Run-Test/
Idle
Select-DR-
Scan
Capture-DR
Shift-DR
Exit-DR
Pause-DR
Exit2-DR
Update-DR
Select-IR-
Scan
Capture-IR
Shift-IR
Exit-IR
Pause-IR
Exit2-IR
Update-IR
1
0
1
0
00
1
00
1
0
1
0
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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| APA300-BGG456I | 功能描述:IC FPGA PROASIC+ 300K 456-PBGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:ProASICPLUS 產(chǎn)品培訓模塊:Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs Cyclone IV FPGA Family Overview 特色產(chǎn)品:Cyclone? IV FPGAs 標準包裝:60 系列:CYCLONE® IV GX LAB/CLB數(shù):9360 邏輯元件/單元數(shù):149760 RAM 位總計:6635520 輸入/輸出數(shù):270 門數(shù):- 電源電壓:1.16 V ~ 1.24 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:484-BGA 供應商設備封裝:484-FBGA（23x23） |
| APA300-BGG456M | 制造商:Microsemi Corporation 功能描述:FPGA PROASICPLUS 300K GATES 180MHZ 0.22UM 2.5V 456BGA - Trays |
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| APA300-BGGES | 制造商:ACTEL 制造商全稱:Actel Corporation 功能描述:ProASIC Flash Family FPGAs |
| APA300-BGGI | 制造商:ACTEL 制造商全稱:Actel Corporation 功能描述:ProASIC Flash Family FPGAs |
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