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參數(shù)資料
| 型號： | A3PE600-2PQG208I |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 120/162頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 600000 GATES 208-PQFP |
| 標準包裝： | 24 |
| 系列： | ProASIC3E |
| RAM 位總計： | 110592 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 147 |
| 門數(shù)： | 600000 |
| 電源電壓： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 208-BFQFP |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 208-PQFP（28x28） |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁當前第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁
ProASIC3E DC and Switching Characteristics
2-46
Revision 13
SSTL3 Class I
Stub-Speed Terminated Logic for 3.3 V memory bus standard (JESD8-8). ProASIC3E devices support
Class I. This provides a differential amplifier input buffer and a push-pull output buffer.
Timing Characteristics
Table 2-72 Minimum and Maximum DC Input and Output Levels
SSTL3 Class I
VIL
VIH
VOL
VOH
IOL IOH
IOSL
IOSH
IIL IIH
Drive
Strength
Min.
V
Max.
V
Min.
V
Max.
V
Max.
V
Min.
VmA mA
Max.
mA1
Max.
mA1
A2 A2
14 mA
–0.3 VREF – 0.2 VREF + 0.2
3.6
0.7
VCCI – 1.1 14 14
54
51
10 10
Notes:
1. Currents are measured at high temperature (100°C junction temperature) and maximum voltage.
2. Currents are measured at 85°C junction temperature.
Figure 2-20 AC Loading
Table 2-73 AC Waveforms, Measuring Points, and Capacitive Loads
Input Low (V)
Input High (V)
Measuring
Point* (V)
VREF (typ.) (V)
VTT (typ.) (V)
CLOAD (pF)
VREF – 0.2
VREF + 0.2
1.5
1.485
30
Note: *Measuring point = Vtrip. See Table 2-15 on page 2-18 for a complete table of trip points.
Test Point
30 pF
50
25
SSTL3
Class I
VTT
Table 2-74 SSTL3 Class I
Commercial-Case Conditions: TJ = 70°C, Worst-Case VCC = 1.425 V,
Worst-Case VCCI = 3.0 V, VREF = 1.5 V
Speed
Grade
tDOUT
tDP
tDIN
tPY
tEOUT
tZL
tZH
tLZ
tHZ
tZLS
tZHS
Units
Std.
0.66
2.31
0.04
1.25
0.43
2.35
1.84
4.59
4.07
ns
–1
0.56
1.96
0.04
1.06
0.36
2.00
1.56
3.90
3.46
ns
–2
0.49
1.72
0.03
0.93
0.32
1.75
1.37
3.42
3.04
ns
Note: For specific junction temperature and voltage supply levels, refer to Table 2-6 on page 2-5 for derating values.
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| 4-552008-1 | CONN CHAMP COVER 50 POS 180 DEG |
| HSC43DRAN | CONN EDGECARD 86POS R/A .100 SLD |
| EPF10K30AQI208-3N | IC FLEX 10KA FPGA 30K 208-PQFP |
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| 552079-1 | CONN COVER STR RLF 14POS 180DEG |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| A3PE600-2PQG896 | 制造商:ACTEL 制造商全稱:Actel Corporation 功能描述:ProASIC3E Flash Family FPGAs |
| A3PE600-2PQG896ES | 制造商:ACTEL 制造商全稱:Actel Corporation 功能描述:ProASIC3E Flash Family FPGAs |
| A3PE600-2PQG896I | 制造商:ACTEL 制造商全稱:Actel Corporation 功能描述:ProASIC3E Flash Family FPGAs |
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| A3PE600-FFG256 | 制造商:Microsemi Corporation 功能描述:FPGA PROASIC3E 600K GATES 193MHZ 130NM 1.5V 256FBGA - Trays |
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