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參數(shù)資料
| 型號： | S29GL032A30TAI010 |
| 廠商： | Spansion Inc. |
| 英文描述： | 64 Megabit, 32 Megabit, and 16 Megabit 3.0-Volt only Page Mode Flash Memory Featuring 200 nm MirrorBit Process Technology |
| 中文描述： | 64兆，32兆和16兆位3.0伏只頁面模式閃存，含有200納米MirrorBit工藝技術(shù) |
| 文件頁數(shù)： | 71/95頁 |
| 文件大小： | 2389K |
| 代理商： | S29GL032A30TAI010 |
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September 10, 2007 S29GL-A_00_A11
S29GL-A
71
D a t a
S h e e t
14. Test Conditions
Figure 14.1
Test Setup
Note
Diodes are IN3064 or equivalent.
15. Key to Switching Waveforms
Figure 15.1
Input Waveforms and Measurement Levels
Table 14.1
Test Specifications
Test Condition
All Speeds
Unit
Output Load
1 TTL gate
Output Load Capacitance, C
L
(including jig capacitance)
30
pF
Input Rise and Fall Times
5
ns
Input Pulse Levels
0.0 or V
CC
V
Input timing measurement reference levels
0.5 V
CC
V
Output timing measurement reference levels
0.5 V
CC
V
2.7 k
Ω
C
L
6.2 k
Ω
3.3 V
Device
Under
Test
Waveform
Inputs
Outputs
Steady
Changing from H to L
Changing from L to H
Don’t Care, Any Change Permitted
Changing, State Unknown
Does Not Apply
Center Line is High Impedance State (High Z)
VCC
0.0 V
Output
Measurement Level
Input
0.5 VCC
0.5 VCC
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PDF描述 |
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