BGA雙頭針用于IC的BGA封裝測試，任何規(guī)格可訂做.

雙頭高頻探針,兩頭都能活動，簡稱雙頭針，不同于傳統(tǒng)探針，它是一種高性能,高頻率的帶彈簧接觸部件。能滿足更高精度和頻率測試需要。
雙頭針只有一個內(nèi)部接觸面，通過減小大小和長度，這樣不僅可以最大化內(nèi)部電阻的重復(fù)性（即雙頭針測試頻率高）,同時也提高了測試的精度。BGA雙頭針是測試座生產(chǎn)商的首選，用于集成在測試座里進(jìn)行半導(dǎo)體測試（功能測試，變量測試），雙頭針在測試軌道上是透明的，并且能維持低且持續(xù)的接觸電阻。