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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | PA28F200BVB80 |
| 廠商： | Intel Corp. |
| 英文描述： | 2-MBIT SmartVoltage BOOT BLOCK FLASH MEMORY FAMILY |
| 中文描述： | 2兆位SmartVoltage啟動(dòng)塊閃存系列 |
| 文件頁數(shù)： | 35/48頁 |
| 文件大?。?/td> | 562K |
| 代理商： | PA28F200BVB80 |
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28F200BX-T/B, 28F002BX-T/B
EXTENDED TEMPERATURE OPERATIONS
AC CHARACTERISTICSDRead Only Operations
(1)
:
Versions
T28F200BX-80
(4)
T28F002BX-80
(4)
Unit
Symbol
Parameter
Notes
Min
Max
t
AVAV
t
RC
Read Cycle Time
80
ns
t
AVQV
t
ACC
Address to
Output Delay
80
ns
t
ELQV
t
CE
CE
Y
to Output Delay
2
80
ns
t
PHQV
t
PWH
RP
Y
High to
Output Delay
300
ns
t
GLQV
t
OE
OE
Y
to Output Delay
2
40
ns
t
ELQX
t
LZ
CE
Y
to Output Low Z
3
0
ns
t
EHQZ
t
HZ
CE
Y
High to Output
High Z
3
30
ns
t
GLQX
t
OLZ
OE
Y
to Output Low Z
3
0
ns
t
GHQZ
t
DF
OE
Y
High to Output
High Z
3
30
ns
t
OH
Output Hold from
Addresses,
CE
Y
or OE
Y
Change,
Whichever is First
3
0
ns
t
IR
Input Rise Time
10
ns
t
IF
Input Fall Time
10
ns
t
ELFL
t
ELFH
CE
Y
to BYTE
Y
Switching
Low or High
3
5
ns
t
FHQV
BYTE
Y
Switching
High to
Valid Output Delay
3, 5
80
ns
t
FLQZ
BYTE
Y
Switching
Low to
Output High Z
3
30
ns
NOTES:
1. See AC Input/Output Reference Waveform for timing measurements.
2. OE
Y
may be delayed up to t
CE
–t
OE
after the falling edge of CE
Y
without impact on t
CE
.
3. Sampled, not 100% tested.
4. See Standard Test Configuration.
5. t
FLQV
, BYTE
Y
switching low to valid output delay, will be equal to t
AVQV
, measured from the time DQ
5
/A-
1
becomes
valid.
35
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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