參數(shù)資料
型號(hào)： MCF52235CAL60
廠商： Freescale Semiconductor
文件頁(yè)數(shù)： 39/55頁(yè)
文件大小： 0K
描述： IC MCU 256K FLASH 60MHZ 112-LQFP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 60
系列： MCF5223x
核心處理器： Coldfire V2
芯體尺寸： 32-位
速度： 60MHz
連通性： CAN，以太網(wǎng)，I²C，SPI，UART/USART
外圍設(shè)備： DMA，LVD，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 73
程序存儲(chǔ)器容量： 256KB（256K x 8）
程序存儲(chǔ)器類(lèi)型： 閃存
RAM 容量： 32K x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 3 V ~ 3.6 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 8x12b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 112-LQFP
包裝： 托盤(pán)
配用： M52235EVB-ND - BOARD EVAL FOR MCF52235
MCF52235 ColdFire Microcontroller Data Sheet, Rev. 10
Electrical Characteristics
Freescale Semiconductor
44
2.13
JTAG and Boundary Scan Timing
Figure 14. Test Clock Input Timing
Table 39. JTAG and Boundary Scan Timing
Num
Characteristics1
1 JTAG_EN is expected to be a static signal. Hence, it is not associated with any timing.
Symbol
Min
Max
Unit
J1
TCLK frequency of operation
fJCYC
DC
1/4
fsys/2
J2
TCLK cycle period
tJCYC
4
t
CYC
—ns
J3
TCLK clock pulse width
tJCW
26
—
ns
J4
TCLK rise and fall times
tJCRF
03
ns
J5
Boundary scan input data setup time to TCLK rise
tBSDST
4—
ns
J6
Boundary scan input data hold time after TCLK rise
tBSDHT
26
—
ns
J7
TCLK low to boundary scan output data valid
tBSDV
033
ns
J8
TCLK low to boundary scan output high Z
tBSDZ
033
ns
J9
TMS, TDI input data setup time to TCLK rise
tTAPBST
4—
ns
J10
TMS, TDI input data hold time after TCLK rise
tTAPBHT
10
—
ns
J11
TCLK low to TDO data valid
tTDODV
026
ns
J12
TCLK low to TDO high Z
tTDODZ
08
ns
J13
TRST assert time
tTRSTAT
100
—
ns
J14
TRST setup time (negation) to TCLK high
tTRSTST
10
—
ns
TCLK
VIL
VIH
J3
J4
J2
(input)
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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參數(shù)描述
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