參數(shù)資料
型號(hào)： MCF5211CAE66
廠商： Freescale Semiconductor
文件頁(yè)數(shù)： 33/56頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC MCU 128K FLASH 66MHZ 64-LQFP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 160
系列： MCF521x
核心處理器： Coldfire V2
芯體尺寸： 32-位
速度： 66MHz
連通性： I²C，SPI，UART/USART
外圍設(shè)備： DMA，LVD，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 33
程序存儲(chǔ)器容量： 128KB（128K x 8）
程序存儲(chǔ)器類型： 閃存
RAM 容量： 16K x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 3 V ~ 3.6 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 8x12b
振蕩器型： 外部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 64-LQFP
包裝： 托盤
配用： M5211DEMO-ND - KIT DEMO FOR MCF5211
Electrical Characteristics
MCF5213 ColdFire Microcontroller, Rev. 3
Freescale Semiconductor
39
2.15
JTAG and Boundary Scan Timing
Figure 10. Test Clock Input Timing
Table 35. JTAG and Boundary Scan Timing
Num
Characteristics1
1 JTAG_EN is expected to be a static signal. Hence, it is not associated with any timing.
Symbol
Min
Max
Unit
J1
TCLK frequency of operation
fJCYC
DC
1/4
fsys/2
J2
TCLK cycle period
tJCYC
4
× t
CYC
—ns
J3
TCLK clock pulse width
tJCW
26
—
ns
J4
TCLK rise and fall times
tJCRF
03
ns
J5
Boundary scan input data setup time to TCLK rise
tBSDST
4—
ns
J6
Boundary scan input data hold time after TCLK rise
tBSDHT
26
—
ns
J7
TCLK low to boundary scan output data valid
tBSDV
033
ns
J8
TCLK low to boundary scan output high Z
tBSDZ
033
ns
J9
TMS, TDI input data setup time to TCLK rise
tTAPBST
4—
ns
J10
TMS, TDI Input data hold time after TCLK rise
tTAPBHT
10
—
ns
J11
TCLK low to TDO data valid
tTDODV
026
ns
J12
TCLK low to TDO high Z
tTDODZ
08
ns
J13
TRST assert time
tTRSTAT
100
—
ns
J14
TRST setup time (negation) to TCLK high
tTRSTST
10
—
ns
TCLK
VIL
VIH
J3
J4
J2
(input)
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PDF描述
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MCF5212 制造商:FREESCALE 制造商全稱:Freescale Semiconductor, Inc 功能描述:ColdFire Microcontroller
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