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參數(shù)資料
| 型號： | MCF5206FT16A |
| 廠商： | Freescale Semiconductor |
| 文件頁數(shù)： | 340/449頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MCU 32BIT COLDF 16MHZ 160-QFP |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 24 |
| 系列： | MCF520x |
| 核心處理器： | Coldfire V2 |
| 芯體尺寸： | 32-位 |
| 速度： | 16MHz |
| 連通性： | I²C，UART/USART |
| 外圍設(shè)備： | POR，WDT |
| 輸入/輸出數(shù)： | 8 |
| 程序存儲器類型： | ROMless |
| RAM 容量： | 512 x 8 |
| 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： | 4.75 V ~ 5.25 V |
| 振蕩器型： | 外部 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 封裝/外殼： | 160-BQFP |
| 包裝： | 托盤 |
| 配用： | M5206EC3-ND - KIT EVAL FOR MCF5206E W/ETHERNET |
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MOTOROLA
MCF5206 USERS MANUAL Rev 1.0
15-1
SECTION 15
IEEE 1149.1 TEST ACCESS PORT (JTAG)
The MCF5206 includes dedicated user-accessible test logic that is fully compliant with the
IEEE standard 1149.1 Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture. Use the
following description in conjunction with the supporting IEEE document listed above. This
section includes the description of those chip-specific items that the IEEE standard requires
as well as those items specific to the MCF5206 implementation.
The MCF5206 JTAG test architecture implementation currently supports circuit board test
strategies that are based on the IEEE standard. This architecture provides access to all of
the data and chip control pins from the board edge connector through the standard four-pin
test access port (TAP) and the active-low JTAG reset pin, TRST. The test logic itself uses a
static design and is wholly independent of the system logic, except where the JTAG is
subordinate to other complimentary test modes (see the Debug Support section for more
information). When in subordinate mode, the JTAG test logic is placed in reset and the TAP
pins can be used for other purposes in accordance with the rules and restrictions set forth
using a JTAG compliance-enable pin.
The MCF5206 JTAG implementation can:
Perform boundary-scan operations to test circuit board electrical continuity
Bypass the MCF5206 device by reducing the shift register path to a single cell
Sample the MCF5206 system pins during operation and transparently shift out the
result
Set the MCF5206 output drive pins to fixed logic values while reducing the shift register
path to a single cell
Protect the MCF5206 system output and input pins from backdriving and random
toggling (such as during in-circuit testing) by placing all system signal pins to high-
impedance state
NOTE
The IEEE Standard 1149.1 test logic cannot be considered
completely benign to those planning not to use JTAG capability.
You must observe certain precautions to ensure that this logic
does not interfere with system or debug operation. Refer to
Section 15.6 Disabling the IEEE 1149.1 Standard Operation.
DATE: 9-2-98
REVISION NO.: 1.1
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