參數(shù)資料
型號(hào)： MC74ACT74MELG
廠商： ON SEMICONDUCTOR
元件分類： 通用總線功能
英文描述： Dual D−Type Positive Edge−Triggered Flip−Flop
中文描述： ACT SERIES, DUAL POSITIVE EDGE TRIGGERED D FLIP-FLOP, COMPLEMENTARY OUTPUT, PDSO14
封裝： LEAD FREE, EIAJ, SO-14
文件頁(yè)數(shù)： 2/12頁(yè)
文件大小： 167K
代理商： MC74ACT74MELG
MC74AC74, MC74ACT74
http://onsemi.com
2
TRUTH TABLE
(Each Half)
Inputs
Outputs
S
D
C
D
CP
D
Q
Q
L
H
L
H
H
H
H
L
L
H
H
H
X
X
X
X
X
X
H
L
X
H
L
H
H
L
Q
0
L
H
H
L
H
Q
0
L
NOTE:
H = HIGH Voltage Level
L = LOW Voltage Level
X = Immaterial;
= LOW-to-HIGH Clock Transition
Q
0
(Q
0
) = Previous Q(Q) before LOW-to-HIGH
Transition of Clock
Figure 2. Logic Symbol
S
D1
Q
1
CP
1
Q
1
C
D1
S
D2
Q
2
D
2
CP
2
Q
2
CD
2
D
1
S
D
D
CP
C
D
Q
Q
Figure 3. Logic Diagram
NOTE:
This diagram is provided only for the understanding of
logic operations and should not be used to estimate
propagation delays.
MAXIMUM RATINGS
Symbol
Parameter
Value
Unit
V
CC
V
in
DC Supply Voltage (Referenced to GND)
0.5 to +7.0
V
DC Input Voltage (Referenced to GND)
0.5 to V
CC
+0.5
V
V
out
DC Output Voltage (Referenced to GND)
0.5 to V
CC
+0.5
V
I
in
DC Input Current, per Pin
±
20
mA
I
out
DC Output Sink/Source Current, per Pin
±
50
mA
I
CC
DC V
CC
or GND Current per Output Pin
±
50
mA
T
stg
Stresses exceeding Maximum Ratings may damage the device. Maximum Ratings are stress ratings only. Functional operation above the
Recommended Operating Conditions is not implied. Extended exposure to stresses above the Recommended Operating Conditions may affect
device reliability.
Storage Temperature
65 to +150
°
C
相關(guān)PDF資料
PDF描述
MC74ACT74NG Dual D−Type Positive Edge−Triggered Flip−Flop
MC74ACT132MEL Quad 2−Input NAND Schmitt Trigger
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MC74AC132DR2 Quad 2−Input NAND Schmitt Trigger
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