參數(shù)資料
型號(hào)： LFX125EB-05FN256C
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁(yè)數(shù)： 79/119頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC FPGA 139K GATES 256-BGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 90
系列： ispXPGA®
邏輯元件/單元數(shù)： 1936
RAM 位總計(jì)： 94208
輸入/輸出數(shù)： 160
門數(shù)： 139000
電源電壓： 2.3 V ~ 3.6 V
安裝類型： 表面貼裝
工作溫度： 0°C ~ 85°C
封裝/外殼： 256-BGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 256-FPBGA（17x17）
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Lattice Semiconductor
ispXPGA Family Data Sheet
58
ispXP sysCONFIG Port Timing Specifications
Boundary Scan Timing
Symbol
Timing Parameter
Min.
Typ.
Max.
Units
sysCONFIG Write Cycle Timing
tSUCS
Input setup time of CS to CCLK rise
10
—
ns
tHCS
Hold time of CS to CCLK Rise
0
—
ns
tSUWD
Input setup time of write data to CCLK rise
12
—
ns
tHWD
Hold time of write data to CCLK rise
0
—
ns
tPRGM
Low time to reset device SRAM
5
—
50
ns
tWINIT
INIT pulse width
—
5
ms
tIODISS
User I/O disable
—
30
ns
tIOENSS
User I/O enable
—
30
ns
tWH
Write clock High pulse width
12
—
ns
tWL
Write clock Low pulse width
12
—
ns
fMAXW
Write fMAX
——
33
MHz
sysCONFIG Read Cycle Timing
tHREAD
Hold time of READ to CCLK rise
0
—
ns
tSUREAD
Input setup time of READ High to CCLK rise
30
—
ns
tRH
READ clock high pulse width
12
—
ns
tRL
READ clock low pulse width
15
—
ns
fMAXR
Read fMAX
——
33
MHz
tCORD
Clock to out for read data
—
25
ns
Parameter
Description
Min.
Max.
Units
tBTCP
TCK [BSCAN] Clock Pulse Width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] Clock Pulse Width High
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] Clock Pulse Width Low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] Setup Time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] Hold Time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] Rise/Fall Time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP Controller Falling Edge of Clock to Valid Output
—
18
ns
tBTCODIS
TAP Controller Falling Edge of Clock to Valid Disable
—
18
ns
tBTCOEN
TAP Controller Falling Edge of Clock to Valid Enable
—
18
ns
tBTCRS
BSCAN Test Capture Register Setup Time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN Test Capture Register Hold Time
25
—
ns
tBUTCO
BSCAN Test Update Register, Falling Edge of Clock to Valid Output
—
45
ns
tBTUODIS
BSCAN Test Update Register, Falling Edge of Clock to Valid Disable
—
20
ns
tBTUPOEN
BSCAN Test Update Register, Falling Edge of Clock to Valid Enable
—
20
ns
SELECT
DEVICES
DISCONTINUED
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PDF描述
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參數(shù)描述
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