參數(shù)資料
型號： LC51024VG-10F676I
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁數(shù)： 44/99頁
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描述： IC XPLD 1024MC 10NS 676FPBGA
標準包裝： 27
系列： ispMACH™ 5000VG
可編程類型： 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時間 tpd(1)： 10.0ns
電壓電源 - 內(nèi)部： 3 V ~ 3.6 V
邏輯元件/邏輯塊數(shù)目： 32
宏單元數(shù)： 1024
輸入/輸出數(shù)： 384
工作溫度： -40°C ~ 105°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 676-BBGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 676-FPBGA（31x31）
包裝： 托盤
Lattice Semiconductor
ispXPLD 5000MX Family Data Sheet
45
Boundary Scan Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Parameter
Description
Min
Max
Units
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
10
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
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DEVICES
DISCONTINUED
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PDF描述
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參數(shù)描述
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LC51024VG-12F676I 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 PROGRAM EXPANDED LOG RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數(shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
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LC51024VG-5F676C 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 PROGRAM EXPANDED LOG RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲類型:EEPROM 大電池數(shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100
LC51024VG75F484C 制造商:Lattice Semiconductor Corporation 功能描述:
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