FN6627.4 June 10, 2010 FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT FIGURE 6. AUDIO CROSSTALK TEST CIRCUIT FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS FIGURE 7B. TEST C" />
參數(shù)資料
型號(hào)： ISL54209IRUZ-T7A
廠商： Intersil
文件頁數(shù)： 19/19頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC USB SWITCH DUAL SPDT 10UTQFN
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1
功能： USB 開關(guān)
電路： 2 x SPDT - NO
導(dǎo)通狀態(tài)電阻： 20 歐姆
電壓電源： 單電源
電壓 - 電源，單路/雙路(±)： 2.5 V ~ 5 V
電流 - 電源： 7µA
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 10-UFQFN
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 10-UTQFN（2.1x1.6）
包裝： 標(biāo)準(zhǔn)包裝
其它名稱： ISL54209IRUZ-T7ADKR
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FN6627.4
June 10, 2010
FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 6. AUDIO CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 7B. TEST CIRCUIT
FIGURE 7. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
VDD
C
GND
AUDIO OR USB
COMx
IN
IMPEDANCE
ANALYZER
0V OR VDD
Repeat test for all switches.
CTRL
0V
ANALYZER
VDD
C
L OR R
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
IN
COMx
32Ω
NC
COMx
R OR L
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
CTRL
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
CL
COM-
D+
GND
VDD
C
D-
COM+
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro - tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output Signals.
|tfo - tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output Signals.
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signals.
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
15.8
Ω
15.8
Ω
143
Ω
143
Ω
45
Ω
45
Ω
CTRL
IN
VDD
ISL54209
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