參數(shù)資料
型號: AD5243BRM50-RL7
廠商: ANALOG DEVICES INC
元件分類: 數(shù)字電位計
英文描述: Dual 256-Position I2C Compatible Digital Potentiometer
中文描述: DUAL 50K DIGITAL POTENTIOMETER, 2-WIRE SERIAL CONTROL INTERFACE, 256 POSITIONS, PDSO10
封裝: 3 X 4.90 MM, MO-187BA, MSOP-10
文件頁數(shù): 12/20頁
文件大小: 798K
代理商: AD5243BRM50-RL7
AD5243/AD5248
TEST CIRCUITS
Figure 29 through Figure 35 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product specification tables.
Rev. 0 | Page 12 of 20
0
V
MS
A
W
B
DUT
V+
V+ = V
1LSB = V+/2
N
Figure 29. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error
(INL, DNL)
0
NO CONNECT
I
W
V
MS
A
W
B
DUT
Figure 30. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
0
V
MS2
V
MS1
V
W
A
W
B
DUT
I
W
= V
DD
/R
NOMINAL
R
W
= [V
MS1
– V
MS2
]/I
W
Figure 31. Test Circuit for Wiper Resistance
0
V
MS
%
V
DD
%
DUT
( )
A
W
B
V+
MS
V
DD
V
A
V
MS
V+ = V
DD
± 10%
PSRR (dB) = 20 LOG
PSS (%/%) =
Figure 32. Test Circuit for Power Supply Sensitivity(PSS, PSSR)
0
+15V
–15V
W
A
2.5V
B
V
OUT
OFFSET
GND
DUT
AD8610
V
IN
Figure 33. Test Circuit for Gain vs. Frequency
0
W
B
V
SS
TO V
DD
DUT
I
SW
CODE = 0x00
R
SW
=
0.1V
I
SW
0.1V
Figure 34. Test Circuit for Incremental On Resistance
W
B
V
CM
I
CM
A
NC
GND
NC
V
DD
DUT
NC = NO CONNECT
0
Figure 35. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
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PDF描述
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參數(shù)描述
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