VMS A B W V+ = VDD 1LSB = V+/128 " />
參數(shù)資料
型號： AD5220BRMZ100-R7
廠商： Analog Devices Inc
文件頁數(shù)： 9/11頁
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描述： IC POT DGTL SGL 128POS 8USOIC
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1,000
接片： 128
電阻（歐姆）： 100k
電路數(shù)： 1
溫度系數(shù)： 標(biāo)準(zhǔn)值 800 ppm/°C
存儲器類型： 易失
接口： 4 線串行（芯片選擇，遞增，增/減）
電源電壓： 2.7 V ~ 5.5 V
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 8-TSSOP，8-MSOP（0.118"，3.00mm 寬）
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 8-MSOP
包裝： 帶卷 (TR)
AD5220
–7–
REV.
V+
DUT
VMS
A
B
W
V+ = VDD
1LSB = V+/128
Figure 27. Potentiometer Divider Nonlinearity Error Test
Circuit (INL, DNL)
NO CONNECT
IW
DUT
VMS
A
B
W
Figure 28. Resistor Position Nonlinearity Error (Rheostat
Operation; R-INL, R-DNL)
VMS2
VW
IW = VDD/RNOMINAL
DUT
VMS1
A
B
W
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
Figure 29. Wiper Resistance Test Circuit
PSRR (dB) = 20 LOG
( ––––– )
PSS (%/%) = –––––––
VMS
VDD
VMS%
VDD%
V+ = VDD ± 10%
VDD
VA
~
V+
VMS
A
B
W
Figure 30. Power Supply Sensitivity Test Circuit (PSS,
PSRR)
~
A
B
VIN
2.5V DC
OP279
+5V
VOUT
DUT
W
OFFSET
GND
Figure 31. Inverting Programmable Gain Test Circuit
~
AB
VIN
2.5V
OP279
+5V
VOUT
DUT
W
OFFSET
GND
Figure 32. Noninverting Programmable Gain Test Circuit
A
B
2.5V
DUT
W
OFFSET
GND
~
VIN
OP42
+15V
VOUT
–15V
Figure 33. Gain vs. Frequency Test Circuit
ISW
0 TO VDD
RSW =
0.1V
ISW
CODE = H
0.1V
DUT
B
W
Figure 34. Incremental ON Resistance Test Circuit
Parametric Test Circuits–
A
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PDF描述
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AD5220BRMZ50-RL7 功能描述:IC DGTL POT SNGL 128POS 8USOIC RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 數(shù)據(jù)采集 - 數(shù)字電位器 系列:- 標(biāo)準(zhǔn)包裝:2,500 系列:XDCP™ 接片:256 電阻（歐姆）:100k 電路數(shù):1 溫度系數(shù):標(biāo)準(zhǔn)值 ±300 ppm/°C 存儲器類型:非易失 接口:I²C（設(shè)備位址） 電源電壓:2.7 V ~ 5.5 V 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:14-TSSOP（0.173"，4.40mm 寬） 供應(yīng)商設(shè)備封裝:14-TSSOP 包裝:帶卷 (TR)
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AD5220BRZ10 制造商:Analog Devices 功能描述:IC 7-BIT DIGITAL POT
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